موضوع خبر : کارگروه های تخصصی , فصلنامه تخصصی
عنوان خبر : بیست و پنجمین شماره فصلنامه دانش آزمایشگاهی ایران منتشر شد
تاریخ : 1398/04/02تعداد بازدید : 5162
در نسخه بهار 98 فصلنامه دانش آزمایشگاهی ایران که به همت شبکه آزمایشگاهی تهیه و منتشر میشود، علاوه بر معرفی یک استاندارد تخصصی آزمایشگاهی، چهار مقاله تخصصی نیز ارایه شده است.
همچنین در این شماره، گزارشی از حمایتها و طرحهای یارانه خدمات آزمایشگاهی ارایه شده در باشگاه مشتریان شبکه آزمایشگاهی فناوریهای راهبردی، منتشر شده است.
«راهنمای استاندارد برای تصحیح اثرات بین عنصری در آنالیز به روش طیفسنجی پرتو ایکس»، عنوان استاندارد شماره ASTM: E1361-02 (2014) است که مقدمهای برای روشهای ریاضی تصحیح اثرات بین عنصری (ماتریس) در تجزیه کمی به روش طیفسنجی پرتو ایکس است و تنها اثرات بین عنصری در نمونههایی با ترکیب شیمیایی همگن را شرح میدهد. شماره 25 فصلنامه دانش آزمایشگاهی ایران، این استاندارد را برای آزمایشگاههای ارایه کننده خدمات طیفسنجی پرتو ایکس معرفی میکند.
تضمین کیفیت به عنوان بخشی از مدیریت کیفیت تعریف میشود که بر حصول اطمینان در رابطه با برآورده کردن الزامات کیفیت تمرکز دارد؛ دیگر بخشهای آن، برنامه ریزی کیفیت، کنترل کیفیت و بهبود کیفیت هستند. این موارد برای تمام فعالیتهای اقتصادی در ارتباط با محصولات، خدمات و رویه های دربردارنده امور ارزیابی انطباق، حائز اهمیت است. در نسخه بهار 98 این فصلنامه، مقالهای با عنوان « نیازهای آموزشی به منظور درک تضمین کیفیت» ارایه شده است که تلاش میکند اهمیت آموزش و آگاهی برای درک جنبههای مختلف تضمین کیفیت توسط تمام طرفین را به تصویر بکشد تا آنها بدانند دنبال چه چیزی هستند، چه میزان انطباق با الزامات استاندارد انجام شده است و چگونه ارزیابی انطباق تایید میشود.
امروزه یکی از حوزههای تخصصی و مورد توجه پژوهش، نمونههای زیستی و بافتهای زنده هستند. مشاهده این نمونهها و بررسی ریزساختارهای آنها با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) نیازمند آمادهسازی خاصی است. به دلیل حساسیت بالای نمونهها در صورتی که هر مرحله از آمادهسازی با دقت کافی صورت نگیرد، باعث ایجاد چروکیدگی، فروپاشی و یا آسیب به ساختار نمونه میشود. دومین مقاله فصلنامه بهار 98 دانش آزمایشگاهی ایران با عنوان «آمادهسازی نمونههای زیستی بهمنظور تصویربرداری با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی» جزئیات و نکات لازم در آمادهسازی این دسته از مواد را برای پژوهشگران و علاقمندان شرح داده است.
به دنبال معرفی اصول پایه «میکروسکوپ الکترونی عبوری با قابلیت فیلتر کردن انرژی» در شماره زمستان 97 فصلنامه دانش آزمایشگاهی ایران، در این شماره از فصلنامه، ساختار و کاربردهای این دستگاه پیشرفته معرفی شده است. در این مقاله، به فیلترهای درون ستونی و فیلترهای بعد از ستون این دستگاه پرداخته شده است که به ترتیب درون و زیر میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) مستقر میگردند. همچنین در این شماره از فصلنامه، کاربرد این دستگاه در حوزههای مختلفی مانند زیست شناسی، پلیمر، نیمه هادیها و نانولولههای کربنی، شرح داده شده است.
میکروسکوپ تونلزنی روبشی (STM) به عنوان اولین عضو از خانواده میکروسکوپی پروبی روبشی (SPM)، به دلیل ابعاد بسیار کوچک سوزن، میتواند کوچکترین پستی و بلندی موجود در سطح را (در حد نانومتر) حس کند. با توسعه روشهای شناسایی نانوساختارها، همواره یکی از اهداف اصلی افزایش توان تفکیک این میکروسکوپ برای بررسی ساختارهای کوچک تر و همچنین شناسایی نانوساختارهای مغناطیسی بوده است. به این منظور، در سالهای اخیر میکروسکوپ تونلزنی روبشی اسپین قطبیده، به ابزاری قدرتمند برای بررسی ساختارهای مغناطیسی در مقیاس نانومتر تبدیل شده است. چهارمین مقاله منتشر شده در فصلنامه دانش آزمایشگاهی ایران در فصل بهار، جزئیات ساختاری و عملکرد این دستگاه و همچنین کاربردهای آن را در پژوهش، به تفصیل ارایه کرده است.
فصلنامه دانش آزمایشگاهی ایران از سوی شبکه آزمایشگاهی و به صورت کاملا الکترونیک منتشر میشود و در نسخههای مختلف، از طریق پایگاه اینترنتی www.IJLK.ir در دسترس علاقمندان قرار میگیرد.