موضوع خبر : کارگروه های تخصصی
عنوان خبر : معرفی کتاب: میکروسکوپی نیروی اتمی (Atomic Force Microscopy)
تاریخ : 1393/06/16تعداد بازدید : 8770
کتاب میکروسکوپی نیروی اتمی (Atomic Force Microscopy)
تألیف: صدیقه صادق حسنی، جمال الدین افضلی و مریم خسروی
شمارة شابک: 9-5-91527-600-978
تعداد صفحات: 548 صفحه
تاریخ انتشار: مرداد ماه 1393
ناشر: نشرگیسوم
این کتاب به‌عنوان یکی از دستاوردهای کارگروه تخصصی SPM شبکه آزمایشگاهی فناوری نانو و با هدف آشنایی با روش میکروسکوپی نیروی اتمی و کاربرد آن در شناسایی نانو مواد، کمک به پژوهشگران برای استفاده بهتر و کاربردی‌تر در پژوهش‌های مرتبط با فناوری نانو و توسعه جریان دانش به رشته تحریر درآمده است. در این کتاب لذا سعی شده است، با بهره‌گیری از مطالعات و تجربیات نویسندگان در این حوزه، اصول این روش و کاربردهای آن به روشنی توضیح داده شوند.
فصل اول این کتاب با عنوان "مبانی میکروسکوپی نیروی اتمی"، ابتدا به معرفی فناوری نانو و میکروسکوپ پروبی روبشی میپردازد و سپس AFM را که ابزاری استاندارد و قدرتمند برای شناسایی نانو مواد است، توصیف می‌کند.
فصل دوم با عنوان "تهیه تصویر با میکروسکوپ نیروی اتمی"، ضمن معرفی انواع تصویر و زیرپایه، چگونگی تهیه تصویر با میکروسکوپ نیروی اتمی، روشهای پردازش تصویر و تحلیل دادهها و اثرهای ناخواسته تصویری را مورد بررسی قرار می‌دهد.
فصل سوم با عنوان "کاربرد AFM در علوم مختلف"، ضمن معرفی انواع کاربردهای میکروسکوپ نیروی اتمی، به توصیف نانولیتوگرافی، مطالعه رشد بلور، مطالعه زبری، تعیین نیروی چسبندگی، تعیین مدول یانگ و تعیین نیروی اصطکاک با AFM میپردازد.
تألیف: صدیقه صادق حسنی، جمال الدین افضلی و مریم خسروی
شمارة شابک: 9-5-91527-600-978
تعداد صفحات: 548 صفحه
تاریخ انتشار: مرداد ماه 1393
ناشر: نشرگیسوم
این کتاب به‌عنوان یکی از دستاوردهای کارگروه تخصصی SPM شبکه آزمایشگاهی فناوری نانو و با هدف آشنایی با روش میکروسکوپی نیروی اتمی و کاربرد آن در شناسایی نانو مواد، کمک به پژوهشگران برای استفاده بهتر و کاربردی‌تر در پژوهش‌های مرتبط با فناوری نانو و توسعه جریان دانش به رشته تحریر درآمده است. در این کتاب لذا سعی شده است، با بهره‌گیری از مطالعات و تجربیات نویسندگان در این حوزه، اصول این روش و کاربردهای آن به روشنی توضیح داده شوند.
فصل اول این کتاب با عنوان "مبانی میکروسکوپی نیروی اتمی"، ابتدا به معرفی فناوری نانو و میکروسکوپ پروبی روبشی میپردازد و سپس AFM را که ابزاری استاندارد و قدرتمند برای شناسایی نانو مواد است، توصیف می‌کند.
فصل دوم با عنوان "تهیه تصویر با میکروسکوپ نیروی اتمی"، ضمن معرفی انواع تصویر و زیرپایه، چگونگی تهیه تصویر با میکروسکوپ نیروی اتمی، روشهای پردازش تصویر و تحلیل دادهها و اثرهای ناخواسته تصویری را مورد بررسی قرار می‌دهد.
فصل سوم با عنوان "کاربرد AFM در علوم مختلف"، ضمن معرفی انواع کاربردهای میکروسکوپ نیروی اتمی، به توصیف نانولیتوگرافی، مطالعه رشد بلور، مطالعه زبری، تعیین نیروی چسبندگی، تعیین مدول یانگ و تعیین نیروی اصطکاک با AFM میپردازد.
منبع : شبکه آزمایشگاهی فناوری نانو