طيفسنجي جرمي(MS)
تاریخ مقاله :
1384/06/09
تعداد بازدید :
5041
نویسنده :
اميد مرادي
چکیده مقاله
طيفسنجي جرمي دستگاهي است که مولکولهاي گازي باردار را بر اساس جرم آنها دستهبندي ميکند. دستگاه طيفسنج جرمي، مولکولها و يونهاي گازي باردار را بر حسب جرم آنها در ميدان آهنربايي از يکديگر جدا و اندازهگيري ميکند. طيف جرمي حاصل جهت تعيين وزن مولکولي دقيق، شناسايي اجسام و تعيين درصد ايزوتوپها مورد استفاده قرار ميگيرد. مهمترين مزيت اين طيف سنجي نسبت به ساير روشها از قبيل TEM، XRD، UV-Vis، IR، اسپکتروسکپي رامان و TGA اين است كه براي تعيين ترکيبات به طور مستقيم از روشهاي فوق نميتوان استفاده کرد. اما از روش MS ميتوان استفاده نمود
متن مقاله
|
طيفسنجي جرمي دستگاهي است که مولکولهاي گازي باردار
را بر اساس جرم آنها دستهبندي ميکند. اين روش ارتباط واقعي با طيفسنجي
نوري ندارد ولي نام طيفسنجي جرمي براي اين روشها انتخاب شده است، زيرا
دستگاههاي اوليه توليد عکس ميکردند که شبيه به طيف خطي بود. فرآيند دستگاه
|
||||||||||||||||||||||||||||
|
|
||||||||||||||||||||||||||||
روش GC- MSروش ديگر براي وارد ساختن نمونه به دستگاه طيفسنج جرمي، استفاده از کروماتوگراف گازي است. کروماتوگراف گازي در بخش مربوطه توضیح داده شده است. در دستگاه GC-MS اجزاي يک مخلوط به ترتيب توسط يک ستون کروماتوگرافي از هم جدا ميشوند و پس از حذف گاز حاصل، وارد منبع يونش طيف سنج جرمي ميگردند.کاربردها اطلاعاتی که می توان از طیف سنج جرمی بدست آورد شامل موارد ذیل است: |
||||||||||||||||||||||||||||
| مراجع: | ||||||||||||||||||||||||||||
|
[1]. D. A. Skoog, D. M. West Holt, "Principle of
Instrumental Analysis", Saunders College Publishing, Sixth edition,
1994. [2].E. Stenhagen, S. Abrahamsson ,F. W. Mclafferty, "Registry of Mass Spectral Data", Wiley New York, Vol. 4, 1974. [3]. Aldermaston, Eight Peak Index of Mass Spectra, 2 ed, Mass Spectroscopy Data Center, Reading, United Kingdom, 1974. [4]. J. J. Gaumet,† G. A. Khitrov, and G. F. Strouse, Mass Spectrometry Analysis of the 1.5 nm Sphalerite-CdS Core of [Cd2S14(SC6H5)36âDMF4], NANO LETTERS, 2, 375-379 , 2002 [5]. H. Inoue, H.; Ichiroku, N.; Torimoto, T.; Sakata, T.; Mori, H.; Yoneyama, H. Langmuir, 10, 4517, 1994 [6]. Gaumet, J. J.; Strouse, G. F. J. Am. Soc. Mass Spectrom. 2000, 11, 338. [7]. Trager, J. C. Int. J. Mass Spectrom., 200, 387, 2000 [8]. Plattner, D. A. Int. J. Mass Spectrom., 207, 125, 2001 [9]. Pryzybylski, M.; Glocker, M. O. Angew. Chem., Int. Ed. Engl., 35, 806, 1996 [10]. H. Inoue, N. Ichiroku, T. Torimoto, T. Sakata, H. Mori, H. Ž . Yoneyama, Langmuir, 10, 4517, 1994 [11]. M.A. Hines, P. Guyot-Sionnest, J. Phys. Chem. B, 102, 3655, 1998 [12]. J.R. Sachleben, V.L. Colvin, L. Emsley, E.W. Wooten, A.P. Ž . Alivisatos, J. Phys. Chem. B 10210117, 1998 [13]. M. Tomaselli, J.L. Yarger, M. Bruchez, R.H. Halvin, D. DeGraw, Ž . A. Pines, A.P. Alivisatos, J. Chem. Phys. 110 8861,1999 [14]. J.R. Sachleben, E.W. Wooten, L. Emsley, A. Pines, V.L. Colvin, Ž . A.P. Alivisatos, Chem. Phys. Lett. 198 431,1992 [15]. X. Peng, J. Wickham, A.P. Alivisatos, J. Am. Chem. Soc. 120 5343, 1998 [16]. R.J. Arnold, J.P. Reilly, J. Am. Chem. Soc. 1201528, 1998 [17]. N. Herron, J.C. Calabrese, W.E. Farneth, Y. Wang, Science 259, 1426, 1993 [18]. Jean-Jacques Gaumet and Geoffrey F. Strouse , Electrospray Mass Spectrometry of Semiconductor Nanoclusters: Comparative Analysis of Positive and Negative Ion Mode, J Am Soc Mass Spectrom, 11, 338–344, 2000 |
||||||||||||||||||||||||||||
| ضميمه1 – ليست مدل هاي مختلف MS | ||||||||||||||||||||||||||||
|
||||||||||||||||||||||||||||
