|
1- طبقه بندي روش هاي اندازه گيري و تعيين مشخصات
|
2
|
|
مقدمه
|
2
|
|
1-1- طبقه بندي روشهاي تعيين مشخصات مواد براساس نحوه عملكرد
|
3
|
|
1-1-1- روشهاي ميكروسكوپي
|
3
|
|
1-1-2- روشهاي براساس پراش
|
3
|
|
1-1-3- روشهاي طيف سنجي
|
3
|
|
1-1-4- طيف سنجي جرمي
|
3
|
|
1-1-5- روشهاي جداسازي
|
4
|
|
1-2- طبقهبندي روشهاي تعيين مشخصات مواد بر اساس خاصيت مورد اندازه گيري
|
4
|
|
1-3- طبقه بندي روشهاي تعيين مشخصات مواد بر اساس ماهيت شناسايي
|
6
|
|
2- آشنايي با تجهيزات اندازه گيري و تعيين مشخصات
|
9
|
|
مقدمه
|
10
|
|
2-1- ميکروسکوپ نيروي اتميAFM))
|
11
|
|
2-2- ميکروسکوپي روبشي تونلي (STM)
|
36
|
|
2-3- ميکروسکوپي نوري ميدان نزديک روبشي(SNOM)
|
45
|
|
2-4- ميكروسكوپ الكتروني روبشي (SEM)
|
48
|
|
2-5- ميكروسكوپ الكتروني روبشي (ESEM)
|
55
|
|
2-6- ميكروسكوپ عبور الكتروني(TEM)
|
63
|
|
2-7- طيف سنجي الكترون اوژه ( AES)
|
73
|
|
2-8- باريکه يوني متمرکز(FIB )
|
80
|
|
2-9- پراكندگي بازگشتي رادرفورد (RBS)
|
85
|
|
2-10- طيف سنج پراش اشعه ايکس(XRD)
|
98
|
|
2- 11 - طيف سنج پراش اشعه ايکس(XRF)
|
98
|
|
2- 12- طيفنگاري الکتروني براي آناليز شيميايي(ESCA) (XPS و UPS)
|
109
|
|
2-13- طيفنگاري جرمي يون ثانويه (SIMS)
|
115
|
|
2-14- طيفسنجي تبديل فوريه مادون قرمز(FTIR)
|
120
|
|
2-15- رزونانس مغناطيس هسته (NMR)
|
125
|
|
2-16- طيفسنجي رامان (RAMAN)
|
134
|
|
2-17 - کروماتوگرافي مايع با کارائي بالا (HPLC)
|
139
|
|
2-18- طيفسنجي جرمي (MS)
|
145
|
|
2- 19- کروماتوگرافي گازي(GC)
|
150
|
|
ضميمهA : فهرست علايم اختصاري تجهيزات مرتبط با فناوري نانو
|
155
|