موضوع خبر : تجهیزات , فصلنامه تخصصی

عنوان خبر : دوازدهمین شماره فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران منتشر شد.

تاریخ : 1394/12/17تعداد بازدید : 1967

دوازدهمین شماره فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران (ویژه زمستان 1394) با تلاش اعضاء و دبیران کارگروه‌های تخصصی شبکه آزمایشگاهی، منتشر شد.

در این شماره از فصلنامه گزارش برگزاری جلسه مشترک ستادهای فناوری‌ راهبردی و شبکه آزمایشگاهی فناوری‌های راهبردی و همچنین مصاحبه آقای دکتراسدی‌فرد، مدیر شبکه آزمایشگاهی، در مورد برگزاری چهارمین دوره نمایشگاه مواد و تجهیزات آزمایشگاهی ساخت ایران آمده‌است.

در بخش استاندارد این فصلنامه نیز، به معرفی روش آزمون استاندارد اندازه‌گیری تنش پسماند با استفاده از پراش پرتو ایکس برای فولاد بیرینگ (ASTM E2860-12) پرداخته شده‌است.

در بخش مقالات، چهار مقاله تخصصی، که توسط کارشناسان کارگروه‌های تخصصی شبکه تهیه شده، منتشر شده است که عناوین آن‌ها عبارت است از:
- بررسی تفاوت بین فیلامان‌های مورد استفاده در دستگاه‌های میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM)؛
- مروری بر روش توموگرافی میکروسکوپ الکترونی عبوری؛ محدودیت‌ها و قابلیت‌ها (TEM)؛
- اصول و کاربردهای میکروسکوپی نیروی پاسخ پیزو (PFM)؛
- معرفی دستگاه کروماتوگرافی گازی - طیف‌سنج جرمی (GC-MS).


فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران به‌صورت رایگان و از طریق پایگاه اینترنتی شبکه آزمایشگاهی فناوری‌ نانو، در اختیار علاقه‌مندان قرار می‌گیرد.
برای دریافت فصلنامه اینجا کلیک کنید.
لینک ارسال مقالات:  Info@ijlk.ir