موضوع خبر : کارگروه های تخصصی

عنوان خبر : چهارمین شماره از پنجمین سال فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران منتشر شد.

تاریخ : 1396/12/19تعداد بازدید : 687

در آخرین شماره فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران در سال جاری، گزارشی از عملکرد کارگروه‌های تخصصی شبکه آزمایشگاهی، فعالیت‌های متنوع و دستاوردهای اعضای این کاگروه‌ها در سال 96 منتشر شده است. برگزاری کارگاه‌های آموزش تخصصی مختلف، انتشار مقالات تخصصی و مواردی از این دست، از جمله این فعالیت‌ها هستند. مهمترین رویداد سال جاری کارگروه‌های تخصصی، تشکیل کارگروه جدید در حوزه آنالیز سطح است که فعالیت خود را با حدود 40 عضو از مراکز عضو شبکه آزمایشگاهی آغاز کرده‌است. مشروح این گزارش، در بیستمین شماره فصلنامه آورده شده است.


واژه‌نامـه و تعریـف واژه‌هـا از جملـه ملزومات هر شـاخه از علم بوده کـه برای فناوری های نوین کـه در آنها واژه‌های جدید بیشـتری وجـود دارد، نشـر چنیـن واژه‌نامه‌هایـی ضرورت بسـیاری دارد. این شماره از فصلنامه، اسـتاندارد ملی شـماره 21258:1395 را معرفی کرده که مربوط به واژه‌نامـه اندازه‌شناسـی در مقیاس نانـو اسـت.


یونیزاسیون محیطی طیف‌سنجی جرمی از زمان معرفی الکترواسپری واجذب و آنالیز مستقیم در زمان واقعی، به ترتیب در سال های 2004 و 2005 بسیار مورد توجه واقع شده‌است. در سال‌های بعد، مجموعه‌ای از روش‌های جدید یونیزاسیون به این زیرگروه طیف‌سنجی جرمی افزوده و توسعه یافته است. اگر به روش‌های یونیزاسیون مستقیم در طیف‌سنج جرمی علاقمند باشید، می‌توانید در بیستمین شماره از فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران، مقاله‌ای در این زمینه بخوانید که این روش‌ها و کاربردهای آنها را مرور کرده است.


میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)، ابزاری قدرتمند در بررسی و مطالعه گسترده مواد در مقیاس نانو است. به کمک این میکروسکوپ، بررسی ویژگی‌های ساختاری و فیزیکی مواد مانند سختی، زبری، توپوگرافی و اندازه ذرات، امکان‌پذیر است. در چهارمین شماره سال جاری فصلنامه، در مقاله‌ای، کاربردهای متنوع این میکروسکوپ معرفی شده است.


«معرفی آشکارساز الکترون‌های برگشتی در میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی»، عنوان مقاله دیگری از نسخته بیستم فصلنامه تخصصی است که در مورد الکترون‌های اولیه‌ای صحبت می‌کند که پس از برخورد باریکه الکترونی به نمونه، از سطح نمونه با پراکندگی الاستیک، بازگشت داده شده‌اند.

filereader.php?p1=main_c4ca4238a0b923820


امروزه روش‌های آنالیز و شناسایی مواد، بسیار حائز اهمیت است. خواص فیزیکی و شیمیایی یک محصول به نوع مواد اولیه و ریزساختار آن بستگی دارد. روش‌هایی مانند آنالیز عنصری، آنالیز فازی و آنالیز ریزساختاری، از جمله روش‌های کلی آنالیز مواد هستند. علاوه بر این سه دسته، آنالیز سطح و آنالیز حرارتی نیز کاربردی بوده و به صورت جداگانه بررسی می‌شوند. یکی از روش‌های قدرتمند آنالیز سطح نمونه، روش «طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس» یا همان XPS است که بر اساس برهم‌کنش بین پرتو ایکس و سطح نمونه شکل گرفته است. شماره زمستان 1396 فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران، اصول و مفاهیم این طیف‌سنجی طی مقاله‌ای توضیح داده شده است.


«فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران» یکی از دستاوردهای مهم کارگروه‌های تخصصی شبکه آزمایشگاهی است که به صورت مستمر منتشر و از طریق پایگاه اینترنتی www.IJLK.ir در قالب الکترونیکی در دسترس علاقمندان قرار می‌گیرد. 

منبع : فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران